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用萬能表檢測mos管好壞的方法:
將萬用表兩個表筆分別搭接在其他兩個極:給B極與任意一個極接一個10千歐姆電阻,電阻先不要接上 ,把表筆分別放在兩級,電阻這時再接觸,指針擺動越大證明該管拆兆敗子放大系數(shù)就越大 ,也就是說該管子就越好,反之越差 。
接電阻的那一端為C極;若是紅表筆為P管,黑表筆旅顫為N管。凡是不符合以上測量數(shù)據(jù)的三極管都是壞的。
萬用表的相關(guān)要求規(guī)定:
1 、指針表讀取精度較差 ,但指針擺動的過程比較直觀,其擺動速度幅度有時也能比較客觀地反映了被測量的大?。ū热鐪y電視機數(shù)據(jù)總線(SDL)在傳送數(shù)據(jù)時的輕微抖動);數(shù)字表讀數(shù)直觀,但數(shù)字變化的過程看起來很雜亂,不太容易觀猜絕看 。
2、數(shù)字萬用表的準(zhǔn)確度是測量結(jié)果中系統(tǒng)誤差與隨機誤差的綜合。它表示測量值與真值的一致程度 ,也反映測量誤差的大小。一般講準(zhǔn)確度愈高,測量誤差就愈小,反之亦然 。
3、指針表內(nèi)一般有兩塊電池 ,一塊低電壓的1.5V,一塊是高電壓的9V或15V,其黑表筆相對紅表筆來說是正端。數(shù)字表則常用一塊6V或9V的電池。在電阻檔,指針表的表筆輸出電流相對數(shù)字表來說要大很多,用R×1Ω檔可以使揚聲器發(fā)出響亮的“噠”聲 ,用R×10kΩ檔甚至可以點亮發(fā)光二極管。
用萬用表R×1k檔或R×10k檔,測量場效應(yīng)管任意兩腳之間的正 、反向電阻值 。正常時,除漏極與源極的正向電阻值較小外 ,其余各引腳之間(G與D、G與S)的正、反向電阻值均應(yīng)為無窮大。若測得某兩極之間的電阻值接昌晌近0Ω,則說明該管已擊穿損壞。
另外,還可以用觸發(fā)柵極(P溝橋好道場效應(yīng)晶敏迅鉛體管用紅表筆觸發(fā) ,N溝道場效應(yīng)管用黑表筆觸發(fā))的方法來判斷場應(yīng)管是否損壞 。若觸發(fā)有效(觸發(fā)柵極G后,D 、S極之間的正、反向電阻均變?yōu)?),則可確定該管性能良好。
用數(shù)字萬用表測量MOS管好壞及引腳的方法:以N溝道MOS場效應(yīng)管為例。
一、先確定MOS管的引腳:
1、先對MOS管放電,將三個腳短路即可;
1 、首先找出場效應(yīng)管的D極(漏極) 。對于TO-252、TO-220這類封裝的帶有散熱片的場效應(yīng)管 ,它們的散熱片在內(nèi)部是與管子的D極相連的,故我們可用數(shù)字萬用表的二極管檔測量管子的各個引腳,哪個引腳與散熱片相連 ,哪個引腳就是D極。
2、找到D極后,將萬用表調(diào)至二極管檔;
3 、用黑表筆接觸管子的D極,用紅表筆分別接觸管子的另外兩個引腳。若接觸到某個引腳時 ,萬用表顯示的讀數(shù)為一個硅二極管的正向壓降,那么該引腳即為S極(源極),剩下的那個引腳即為G極(柵極) 。
二、MOS管好壞的測量:
1、當(dāng)把紅表筆放在S極上 ,黑表筆放在D極上,可以測出來這個導(dǎo)通壓降,一般在0.5V左右為正常;
2 、G腳測量 ,需要先對G極充下電,把紅表筆放在G極,黑表筆放在S極;
3、再次把紅表檔行純筆放在S極上,黑表筆放在D極上 ,可以測出來這個放大壓降,一般在0.3V左右為正常;
擴(kuò)展資料
MOS管的主要參數(shù)
1、開啟電壓VT
開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極S和漏極D之間開始形成導(dǎo)電溝道所需的柵極電壓;
標(biāo)準(zhǔn)的N溝道MOS管,VT約為3~6V;通過工藝上的改進(jìn) ,可以使MOS管的VT值降到2~3V。
2 、直流輸入電阻RAH
即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比
這一特性有時以流過柵極的柵流表示
MOS管的RAH 可以很容易地超過1010Ω。
3.、漏源擊穿電壓BVDS
在VAH =0(增強型)的條件下,在增加漏源電壓過程中使ID開始劇增時的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS
ID劇增的原因有下列兩個方面:
(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿;
(2)漏源極間的穿通擊穿;
有些MOS管中,其溝道長度較短 ,不斷增加VDS會使漏區(qū)的耗盡層一直擴(kuò)展到源區(qū),使溝道長度為零,即產(chǎn)生漏源間的穿通 ,穿通后,源區(qū)中的多數(shù)載流子,將直接受耗盡層電場的吸引 ,到達(dá)漏區(qū),產(chǎn)生大的ID 。
4、柵源擊穿電壓BVAH
在增加?xùn)旁措妷哼^程中,使柵極電流IG由零開始劇增時的VAH ,稱為柵源擊穿電壓BVAH 。
5 、低頻跨導(dǎo)gm
在VDS為某一固定數(shù)值的條件下 ,漏極電流的微變量和引起這個變化的柵源電壓微變量之比稱為跨導(dǎo);
gm反映了柵源電行咐壓對漏極電流的控制能力,是表征MOS管放大能力的一個重要參數(shù)
一般在十分之幾至幾mA/V的范圍內(nèi)
6、導(dǎo)通電阻RON
導(dǎo)通電阻RON說明帶姿了VDS對ID的影響,是漏極特性某一點切線的斜率的倒數(shù)
在飽和區(qū) ,ID幾乎不隨VDS改變,RON的數(shù)值很大,一般在幾十千歐到幾百千歐之間
由于在數(shù)字電路中 ,MOS管導(dǎo)通時經(jīng)常工作在VDS=0的狀態(tài)下,所以這時的導(dǎo)通電阻RON可用原點的RON來近似
·對一般的MOS管而言,RON的數(shù)值在幾百歐以內(nèi)
7、極間電容
三個電極之間都存在著極間電容:柵源電容CAH 、柵漏電容CGD和漏源電容CDS
CAH 和CGD約為1~3pF ,CDS約在0.1~1pF之間
8 、低頻噪聲系數(shù)NF
噪聲是由管子內(nèi)部載流子運動的不規(guī)則性所引起的?!び捎谒拇嬖?,就使一個放大器即便在沒有信號輸人時,在輸出端也出現(xiàn)不規(guī)則的電壓或電流變化
噪聲性能的大小通常用噪聲系數(shù)NF來表示 ,它的單位為分貝(dB)。這個數(shù)值越小,代表管子所產(chǎn)生的噪聲越小
低頻噪聲系數(shù)是在低頻范圍內(nèi)測出的噪聲系數(shù)
場效應(yīng)管的噪聲系數(shù)約為幾個分貝,它比雙極性三極管的要小
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